EA-4000 - Oscilloscope d'échantillonnage optique et électrique

La lunette d'échantillonnage la plus rapide du secteur. Une solution puissante pour la chaîne de production 5G.

Caractéristiques principales

Échantillons/s 1M ultra rapides, mesure 1000 formes d'onde en 2 secondes (2000 échantillons/forme d'onde)
Récepteur optique supportant le monomode et le multimode
Mesures répétables et comparables à celles d'un scope de niveau 1
Supporte le verrouillage de motif PRBS31 (en option)
Mode faible gigue intégré (en option)

Applications

Test de production des émetteurs-récepteurs : évaluation et validation
Essais de sensibilité des récepteurs optiques
Étalonnage sous contrainte du TP1-a

Description

The EA-4000 Eye Analyzer is the industry’s fastest optical and electrical sampling oscilloscope. It is ideal for eye diagram analysis when characterizing transmitters and receivers on the production floor. The EA-4000 supports singlemode and multimode fibers and has been designed with an ultra-low jitter mode for outstanding performance in manufacturing.

Extended capabilities are available with either single or dual ports for electrical and optical characterization of NRZ-based components.

The EA-4000 has three models that cover different applications:

Low rates such as 1.25G, 2.5G and 10G are also supported. For more details, please refer to the specification sheet.

The EA-4000 Eye Analyzer—along with the BA-4000 Bit Analyzer, the MA-4000 Module Analyzer and the CD-4000 Clock Recovery—is part of EXFO’s unique solution for transceiver validation from end to end.
Fiche technique
EA-4000 Eye Analyzer - English (06 juin 2025)
Fiche technique
EA-4000 Eye Analyzer - 中文 (06 juin 2025)
Manuel utilisateur
EA-4000 Eye Analyzer - English (04 juin 2025)
Dépliants et prospectus
EA-4000 sampling scope - English (21 avril 2022)
Blogue
How to address challenges in the end-to-end qualification of pluggable transceivers? - Français (17 janvier 2021)
Webinar
Still bogged down by issues when rolling out next-gen high speeds from R&D to manufacturing? - Français (16 mai 2023)
Bulletins techniques
Unveiling the secrets of 200G/400G optical transceivers - English (20 mars 2020)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - English (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 中文 (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 日本語 (26 octobre 2021)
Bulletins techniques
Testing next-gen PIC-based transceivers - English (07 juillet 2021)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語 (26 octobre 2021)

Soutien