Laissez briller votre PIC : Caractérisation avancée pour la photonique intégrée

Webinaire présenté en anglais seulement.

Regardez ce webinaire pour découvrir comment les solutions de caractérisation avancées jettent les bases de percées dans l'informatique quantique, l'accélération de l'IA et la détection de nouvelle génération, ouvrant ainsi la voie à un leadership technologique national.

Ces dernières années, la photonique intégrée a révolutionné les émetteurs-récepteurs de télécommunications, propulsant les débits de données et l'efficacité énergétique à des niveaux sans précédent. Aujourd'hui, la photonique intégrée est sur le point de transformer la photonique quantique, la détection et l'intelligence artificielle, des domaines d'une importance vitale pour la recherche gouvernementale et les laboratoires de recherche et développement. Il s'agit d'une période passionnante qui promet beaucoup aux innovateurs et aux pionniers de la technologie.

Cependant, le test des matrices photoniques, bien qu'essentiel, reste très difficile par rapport à la caractérisation des circuits intégrés électroniques. Cela s'explique par le fait que la photonique en est encore aux premières phases de développement et de conception. Néanmoins, la fabrication et l'intégration de circuits photoniques nécessitent une caractérisation de premier ordre par le biais d'un processus de test précis, reproductible, traçable, évolutif, flexible et automatisé.

Ce webinaire plonge dans le monde complexe de la caractérisation des composants photoniques, en explorant :

Les pièges auxquels sont confrontés les ingénieurs PIC dans les laboratoires et les centres de recherche gouvernementaux.
Les méthodes de pointe pour évaluer les circuits intégrés photoniques (PIC).
Les moyens de pérenniser les investissements CAPEX grâce à des solutions de test flexibles et évolutives.

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En savoir plus
Pour en savoir plus, consultez ces ressources liées :

• Page : PIC test
• Brochure (anglais seulement) : Optical testing solutions for universities and labs
• Video : Découvrez l’OPAL-MD, station de test pour circuits intégrés photoniques
• Brochure (anglais seulement) : Passive component characterization