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Vidéos promotionnelles
Automated wafer-level testing of photonic integrated circuits - Français
(18 mai 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文
(20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語
(20 juin 2023)
Vidéos promotionnelles
Découvrez la solution complète de tests PIC d’EXFO - Français
(18 mai 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - English
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - Français
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - 中文
(14 mars 2023)
Dépliants et prospectus
Laser accordable continûment en fréquence de haute puissance –T500S/T200S - 日本語
(14 mars 2023)
Brochures et catalogues
Optical testing solutions for manufacturing and R&D - English
(23 décembre 2024)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - English
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 中文
(26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 日本語
(26 octobre 2021)
Fiche technique
OPAL-EC – Station de test de découplage au niveau du wafer - English
(30 juin 2025)
Fiche technique
OPAL-EC – Station de test de découplage au niveau du wafer - Français
(30 juin 2025)
Fiche technique
OPAL-SD – Test sur puce unique - English
(30 juin 2025)
Fiche technique
OPAL-SD – Test sur puce unique - Français
(30 juin 2025)
Fiche technique
OPAL-SD – Test sur puce unique - 中文
(30 juin 2025)
Dépliants et prospectus
Optiwave and EXFO - Partners for automation in lab and manufacturing - English
(30 septembre 2022)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - English
(23 décembre 2024)
Brochures et catalogues
Passive component characterization - 中文
(23 décembre 2024)