BA-4000 Bit Analyzer - 800G电误码率分析仪

支持NRZ和PAM4编码的电误码率分析仪,配备先进的FEC工具,支持800G测试。

主要优点

100G(4x28GBd)、400G(4x56GBd);800G(8x56GBd)
支持NRZ和PAM4编码
支持PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q、SSPRQ
FEC功能:支持FEC Encoded Scrambled Idle码型,以测试53 GBd host侧接口
通道模拟器
插入突发/随机的误码
支持线性/格雷码映射 
O-SMPM连接
支持反射和噪声消除(RCNC),用于LPO测试

应用

测试和验证光模块与线缆
测试光器件和PIC
测试高速集成电路

描述

Bit error rate (BER) is a key performance attribute for digital communications. The signal transmission quality of a network, subsystem or component, can be evaluated using a BER tester, which compares the data stream received to the transmitted sequence and computes the number of errors.

The BA-4000 Bit Analyzer is an electrical NRZ/PAM4 BER tester designed for the production floor. It comes in six models:

  • BA-4000-4-28-NRZ: 100G BERT including 4-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-8-28-NRZ: 200G BERT including 8-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-4-28-PAM: 100G/200G BERT enabling either 4-channel NRZ 28 Gbit/s or 4-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-4-56-PAM: 200G/400G BERT enabling either 4-channel NRZ 56 Gbit/s or 4-channel PAM4 56 GBd.
  • BA-4000-8-28-PAM: 200G/400G BERT suitable for either 8-channel NRZ 28 Gbit/s or 8-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-8-56-PAM: 400G/800G BERT suitable for either 8-channel NRZ 56 Gbit/s or 8-channel PAM4 56 GBd.

The BA-4000 Bit Analyzer leverages FEC simulation capabilities to provide powerful analysis for burst error. Some of the main FEC features are:

  • PRBS error check and correction
  • Pre-FEC and Post-FEC BER
  • KP4/KR4 and low latency FEC protocols
  • FEC Generator and Checker (FGC) to address RS-FEC Scrambled Idle Pattern
  • FEC symbol error distribution plot: codewords vs symbols errors
  • FEC margin auto-calculation

整套误码率分析仪,支持高达800G的研发和制造应用 

BA-4000是一流的100G/800G系列电误码率(BER)分析仪。它专为产 线、质量控制和研发应用而设计,可测试从器件到光模块和线缆的各种设备。 

BA-4000-RCNC专门用于测试线性驱动可插拔光器件(LPO), 后者是一种满足AI/ML应用所需的高带宽和低功耗互连需求的技术。BA-4000-RCNC测试结果与实际开关性能之间存在很强的相关性,从而降低了不确定性,使制造商能够自信高 效地鉴定光模块。 

支持从研发到鉴定和制造的多种用例

IC供应商/制造商

信号质量优异

光模块和线缆制造商

探索BA-4000的FEC功能 

误码率(BER)是基于PAM4调制的光模块和传输系统性能的主要指标。探索BA-4000提供的所有高级FEC功能。 

强大的均衡器和通道模拟器,专为LPO测试设计 

对于LPO光模块,没有DSP来预处理或均衡电信号,如同在重新定时光系统中那样。因此,host侧信号完整性的任何变化都会反映到光侧,而信号切换的次数越多,造成误码的可能性就越大。传统的光模块测试技术无法检测到这种信号劣化,因此需要新的、更强大的测试技术。BA-4000-RCNC可以检测到是否存在反射、码间干扰(ISI)和前向纠错(FEC)尾部不稳定性,这些都是关键的性能指标,从而能够检测到是否存在误码。 

应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - English (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - Français (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - 日本語 (2025年3月12日)
应用说明
399 - BA-4000-L2-RCNC LPO transceivers - 中文 (2025年3月12日)
传单和宣传册
BA-4000 Series - LPO testing - English (2025年4月08日)
传单和宣传册
BA-4000 Series - LPO testing - 日本語 (2025年4月08日)
传单和宣传册
BA-4000 Series - LPO testing - Français (2025年4月08日)
传单和宣传册
BA-4000 Series - LPO testing - 中文 (2025年4月08日)
网络研讨会
Optimizing power usage as data centers shift to 800G - 中文 (2024年1月17日)
博客
如何应对可插拔收发器的端到端测试挑战? - 中文 (2021年1月17日)
网络研讨会
From 400G to 800G: encoded FEC - 中文 (2023年5月17日)
网络研讨会
Still bogged down by issues when rolling out next-gen high speeds from R&D to manufacturing? - 中文 (2023年5月16日)
应用说明
Unveiling the secrets of 200G/400G optical transceivers - English (2020年3月20日)
附录
Notice Important Information BA-4000 - English (2022年11月23日)
附录
Notice Important Information BA-4000 - Français (2022年11月23日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - English (2021年10月26日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - 中文 (2021年10月26日)
传单和宣传册
性能优异的800G传输测试解决方案 - 日本語 (2021年10月26日)
应用说明
Testing next-gen PIC-based transceivers - English (2021年7月07日)

支持