BA-4000误码率分析仪 - 800G电误码率分析仪

概述
支持NRZ和PAM4编码的电误码率分析仪,配备先进的FEC工具,支持800G测试。

主要优点

  • 100G(4x28GBd)、400G(4x56GBd);800G(8x56GBd
  • 支持NRZ和PAM4编码
  • 支持PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q、SSPRQ
  • FEC功能:支持FEC Encoded Scrambled Idle码型,以测试53 GBd host侧接口
  • 通道模拟器
  • 插入突发/随机的误码

应用

  • 测试和验证光模块与线缆
  • 测试光器件和PIC
  • 测试高速集成电路

亮点

适用于研发和制造的完整比特分析仪套件,支持高达800G

BA-4000 是一款世界一流的 100G/800G 电比特误码率 (BER) 测试仪系列。该系列专为生产线、质量控制及研发应用而设计,测试范围涵盖从元器件到收发器和电缆的各类产品。

BA-4000-RCNC 型号专为测试线性驱动可插拔光学器件(LPO)而设计,该技术旨在满足人工智能/机器学习(AI/ML)应用对高带宽、低功耗互连的需求。BA-4000-RCNC 的测试结果与实际交换机性能之间存在高度相关性,这有效降低了测试的不确定性,使制造商能够自信且高效地对收发器进行认证。 

强大的均衡器和通道模拟器,专为LPO测试设计 

对于LPO光模块,没有DSP来预处理或均衡电信号,如同在重新定时光系统中那样。因此,host侧信号完整性的任何变化都会反映到光侧,而信号切换的次数越多,造成误码的可能性就越大。传统的光模块测试技术无法检测到这种信号劣化,因此需要新的、更强大的测试技术。BA-4000-RCNC可以检测到是否存在反射、码间干扰(ISI)和前向纠错(FEC)尾部不稳定性,这些都是关键的性能指标,从而能够检测到是否存在误码。