Ressources
Toutes les ressources
Bulletins techniques
Insertion loss and return loss: relative measurements using the CTP10 platform - English
(27 mars 2023)
Bulletins techniques
Swept IL PDL measurement of WDM components with the CTP10 platform - English
(28 mars 2023)
Livres blancs
135 - Navigating the murky waters of swept PDL measurements - English
(25 février 2021)
Dépliants et prospectus
Optiwave and EXFO - Partners for automation in lab and manufacturing - English
(30 septembre 2022)
Démos produits
An overview of EXFO Optics product portfolio - Français
(18 mai 2023)
Démos produits
EXFO's CTP10: Overview of the GUI for swept IL-PDL measurements - Français
(18 mai 2023)
Démos produits
Is your optical component testing future-proof? - Français
(18 mai 2023)
Vidéos promotionnelles
Accelerating photonics lab to fab with Aerotech, EHVA and EXFO - Français
(18 mai 2023)
Vidéos promotionnelles
Automated wafer-level testing of photonic integrated circuits - Français
(18 mai 2023)
Brochures et catalogues
Optical testing solutions for universities and labs - English
(23 décembre 2024)