BA-4000 Bit Analyzer - Testeur de taux d'erreur de bits 800G électrique

BERT électrique supportant le codage NRZ et PAM4, avec outils FEC et capacités de test jusqu'à 800G.

Caractéristiques principales

100G (4x28GBd), 400G (4x56GBd) & 800G (8x56GBd)
Supporte NRZ et PAM4
Supporte PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQ
Capacité FEC : Motif d'inactivité brouillé RS-FEC pour tester les interfaces 53 GBd côté hôte
Simulateur de canal
Injection d'erreurs en rafale ou aléatoires
Prise en charge du mappage linéaire/gris
Connexion O-SMPM
Annulation de la réflexion et du bruit (RCNC) pour les tests LPO

Applications

Test et validation des transpondeurs et des câbles
Test de composants optiques et de PIC
Test de circuits intégrés électriques à grande vitesse

Description

Bit error rate (BER) is a key performance attribute for digital communications. The signal transmission quality of a network, subsystem or component, can be evaluated using a BER tester, which compares the data stream received to the transmitted sequence and computes the number of errors.


The BA-4000 Bit Analyzer is an electrical NRZ/PAM4 BER tester designed for the production floor. It comes in six models:

  • BA-4000-4-28-NRZ: 100G BERT including 4-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-8-28-NRZ: 200G BERT including 8-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-4-28-PAM: 100G/200G BERT enabling either 4-channel NRZ 28 Gbit/s or 4-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-4-56-PAM: 200G/400G BERT enabling either 4-channel NRZ 56 Gbit/s or 4-channel PAM4 56 GBd.
  • BA-4000-8-28-PAM: 200G/400G BERT suitable for either 8-channel NRZ 28 Gbit/s or 8-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-8-56-PAM: 400G/800G BERT suitable for either 8-channel NRZ 56 Gbit/s or 8-channel PAM4 56 GBd.


The BA-4000 Bit Analyzer leverages FEC simulation capabilities to provide powerful analysis for burst error. Some of the main FEC features are:

  • PRBS error check and correction
  • Pre-FEC and Post-FEC BER
  • KP4/KR4 and low latency FEC protocols
  • FEC Generator and Checker (FGC) to address RS-FEC Scrambled Idle Pattern
  • FEC symbol error distribution plot: codewords vs symbols errors
  • FEC margin auto-calculation
Bulletins techniques
BA-4000-L2-RCNC – Comment relever les défis de conception et de test des transpondeurs LPO ? - English (12 mars 2025)
Bulletins techniques
BA-4000-L2-RCNC – Comment relever les défis de conception et de test des transpondeurs LPO ? - Français (12 mars 2025)
Bulletins techniques
BA-4000-L2-RCNC – Comment relever les défis de conception et de test des transpondeurs LPO ? - 日本語 (12 mars 2025)
Bulletins techniques
BA-4000-L2-RCNC – Comment relever les défis de conception et de test des transpondeurs LPO ? - 中文 (12 mars 2025)
Dépliants et prospectus
BA-4000 Series - LPO testing - English (08 avril 2025)
Dépliants et prospectus
BA-4000 Series - LPO testing - 日本語 (08 avril 2025)
Dépliants et prospectus
BA-4000 Series - LPO testing - Français (08 avril 2025)
Webinar
Optimizing power usage as data centers shift to 800G - Français (17 janvier 2024)
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How to address challenges in the end-to-end qualification of pluggable transceivers? - Français (17 janvier 2021)
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From 400G to 800G: encoded FEC - Français (17 mai 2023)
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Still bogged down by issues when rolling out next-gen high speeds from R&D to manufacturing? - Français (16 mai 2023)
Bulletins techniques
Unveiling the secrets of 200G/400G optical transceivers - English (20 mars 2020)
Addendum
Avis informations importantes - BA-4000 - English (23 novembre 2022)
Addendum
Avis informations importantes - BA-4000 - Français (23 novembre 2022)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - English (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 中文 (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
Leading-edge transmission testing up to 800G - 日本語 (26 octobre 2021)
Bulletins techniques
Testing next-gen PIC-based transceivers - English (07 juillet 2021)

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