BA-4000 Bit Analyzer - Testeur de taux d'erreur de bits 800G électrique

BERT électrique supportant le codage NRZ et PAM4, avec outils FEC et capacités de test jusqu'à 800G.

Caractéristiques principales

100G (4x28GBd), 400G (4x56GBd) & 800G (8x56GBd)
Supporte NRZ et PAM4
Supporte PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQ
Capacité FEC : Motif d'inactivité brouillé RS-FEC pour tester les interfaces 53 GBd côté hôte
Simulateur de canal
Injection d'erreurs en rafale ou aléatoires
Prise en charge du mappage linéaire/gris
Connexion O-SMPM
Annulation de la réflexion et du bruit (RCNC) pour les tests LPO

Applications

Test et validation des transpondeurs et des câbles
Test de composants optiques et de PIC
Test de circuits intégrés électriques à grande vitesse

Description

Bit error rate (BER) is a key performance attribute for digital communications. The signal transmission quality of a network, subsystem or component, can be evaluated using a BER tester, which compares the data stream received to the transmitted sequence and computes the number of errors.


The BA-4000 Bit Analyzer is an electrical NRZ/PAM4 BER tester designed for the production floor. It comes in six models:

  • BA-4000-4-28-NRZ: 100G BERT including 4-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-8-28-NRZ: 200G BERT including 8-channel NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-4-28-PAM: 100G/200G BERT enabling either 4-channel NRZ 28 Gbit/s or 4-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-4-56-PAM: 200G/400G BERT enabling either 4-channel NRZ 56 Gbit/s or 4-channel PAM4 56 GBd.
  • BA-4000-8-28-PAM: 200G/400G BERT suitable for either 8-channel NRZ 28 Gbit/s or 8-channel PAM4 28 GBd.
  • BA-4000-8-56-PAM: 400G/800G BERT suitable for either 8-channel NRZ 56 Gbit/s or 8-channel PAM4 56 GBd.


The BA-4000 Bit Analyzer leverages FEC simulation capabilities to provide powerful analysis for burst error. Some of the main FEC features are:

  • PRBS error check and correction
  • Pre-FEC and Post-FEC BER
  • KP4/KR4 and low latency FEC protocols
  • FEC Generator and Checker (FGC) to address RS-FEC Scrambled Idle Pattern
  • FEC symbol error distribution plot: codewords vs symbols errors
  • FEC margin auto-calculation
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - English (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 中文 (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 日本語 (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
EXFO demos - OIF interops - English (18 mars 2022)
Dépliants et prospectus
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語 (26 octobre 2021)
Déclaration de conformité
[DOC-114-287] BA-4000 | CE - English (29 juin 2021)
Démos produits
800G bit-error-rate testing enhanced with FEC capabilities - Français (18 mai 2023)
Démos produits
Leading-edge BER testing up to 800G - Français (18 mai 2023)
Vidéos promotionnelles
Overcoming E2E transceiver testing challenges with EXFO - Français (18 mai 2023)
Blogue
Le 64G Fibre Channel : comprendre le processus de test et de validation - Français (19 mars 2024)
Fiche technique
BA-4000 Analyseur de bits - English (06 juin 2025)
Fiche technique
BA-4000 Analyseur de bits - Français (06 juin 2025)
Fiche technique
BA-4000 Analyseur de bits - 中文 (06 juin 2025)

Soutien