BA-4000 Bit Analyzer - Testeur de taux d'erreur de bits 800G électrique

Testeur BER avec marge de correction d'erreur avant (FEC).

Caractéristiques principales

100G (4x28GBd), 400G (4x56GBd) & 800G (8x56GBd)
Supporte NRZ et PAM4
Supporte PRBS 7/9/11/13/15/23/31/13Q/31Q, SSPRQ
Capacité FEC : Motif d'inactivité brouillé RS-FEC pour tester les interfaces 53 GBd côté hôte
Simulateur de canal
Injection d'erreurs en rafale ou aléatoires
Prise en charge du mappage linéaire/gris
Connexion O-SMPM

Applications

Test et validation des émetteurs-récepteurs
Test de sous-ensembles tels que TOSA et ROSA
Test du FPGA, de la carte de conformité du module (MCB) et de la carte de conformité de l'hôte (HCB).

Description

Le taux d'erreur sur les bits (BER) est un attribut de performance essentiel pour les communications numériques. La qualité de transmission des signaux d'un réseau, d'un sous-système ou d'un composant peut être évaluée à l'aide d'un testeur BER, qui compare le flux de données reçu à la séquence transmise et calcule le nombre d'erreurs.

L'analyseur de bits BA-4000 est un testeur BER NRZ/PAM4 électrique conçu pour les ateliers de production. Il est disponible en six modèles :

  • BA-4000-4-28-NRZ : BERT 100G comprenant 4 canaux NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-8-28-NRZ : BERT 200G incluant 8 canaux NRZ 28 Gbit/s.
  • BA-4000-4-28-PAM : BERT 100G/200G permettant soit NRZ 28 Gbit/s à 4 canaux, soit PAM4 28 GBd à 4 canaux.
  • BA-4000-4-56-PAM : BERT 200G/400G activant soit NRZ 56 Gbit/s à 4 canaux, soit PAM4 56 GBd à 4 canaux.
  • BA-4000-8-28-PAM : BERT 200G/400G permettant soit NRZ 8 canaux 28 Gbit/s, soit PAM4 8 canaux 28 GBd.
  • BA-4000-8-56-PAM : BERT 400G/800G convenant pour 8 canaux NRZ 56 Gbit/s ou 8 canaux PAM4 56 GBd.

L'analyseur de bits BA-4000 exploite les capacités de simulation FEC pour fournir une analyse puissante des erreurs en rafale. Certaines des principales caractéristiques FEC sont les suivantes :

  • Vérification et correction des erreurs PRBS
  • BER pré-FEC et post-FEC
  • Protocoles KP4/KR4 et FEC à faible latence
  • Générateur et vérificateur FEC (FGC) pour traiter le motif d'inactivité brouillé RS-FEC.
  • Graphique de distribution des erreurs de symboles FEC : mots de code et erreurs de symboles.
  • Calcul automatique de la marge FEC
Fiche technique
BA-4000 – Câble et connecteurs RF - English (02 juillet 2021)
Fiche technique
BA-4000 – Câble et connecteurs RF - 中文 (02 juillet 2021)
Fiche technique
BA-4000 – Câble et connecteurs RF - Français (02 juillet 2021)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - English (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 中文 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
Testing photonics and optical components for manufacturing, design and research challenges - 日本語 (20 juin 2023)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - English (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 中文 (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
BA-4000 now with 800G FEC Generator and Checker (FGC) - 日本語 (26 octobre 2021)
Dépliants et prospectus
EXFO demos - OIF interops - English (18 mars 2022)
Dépliants et prospectus
PIC-Optical integrated circuits test solution - 日本語 (26 octobre 2021)
Déclaration de conformité
[DOC-114-287] BA-4000 | CE - English (29 juin 2021)
Démos produits
800G bit-error-rate testing enhanced with FEC capabilities - Français (18 mai 2023)
Démos produits
Leading-edge BER testing up to 800G - Français (18 mai 2023)
Vidéos promotionnelles
Overcoming E2E transceiver testing challenges with EXFO - Français (18 mai 2023)
Blogue
Le 64G Fibre Channel : comprendre le processus de test et de validation - Français (19 mars 2024)

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